ఎలక్ట్రాన్ వివర్తనము
ఎలక్ట్రాన్ డైఫ్రాక్షన్ అంటే తరంగాల స్వభావాన్ని పరిశీలించడం. కానీ సాంకేతికంగా లేదా పరిశీలనాత్మకంగా చెప్పాలంటే ఏదయినా వస్తువు మీద ఎలక్ట్రాన్లను విసిరినప్పుడు వచ్చిన ఇంటర్ఫియరెన్స్ పాటెర్న్ ను పరిశీలించడం. ఈ సిద్ధాంతాన్నే తరంగం-అణువు ద్వంద్వత్వం అని కూడా అంటారు. ఈ తరంగం-అణువు ద్వంద్వత్వం ప్రకారం, ఒక ఆణువును (ఈ సందర్భంలో ఒక ఎలక్ట్రాన్ ను) తరంగంగా పరిగణించవచ్చు. ఈ కారణం చేతనే ఎలక్ట్రాన్ ను ధ్వని లేదా నీటి తరంగాలలా అనుకోవచ్చు. ఈ సిద్ధాంతం ఎక్స్-రే, న్యూట్రాన్ డైఫ్రాక్షన్ ను పోలి ఉంటుంది. ఎలక్ట్రాన్ డైఫ్రాక్షన్, సాలిడ్ స్టేట్ ఫిజిక్స్, రసాయన శాస్త్రాలలో వస్తువుల యొక్క స్ఫటిక స్వరూపాన్ని అధ్యయనం చేయటం కోసం తరచుగా వాడతారు. వస్తువుల స్ఫటిక స్వరూపాన్ని అధ్యయనం చేయటంతో పాటూ, అమార్ఫస్ ఘనాల యొక్క షార్ట్ రేంజ్ ఆర్డర్ ను కనుగొనటానికీ, అలానే వాయు అణువుల జ్యామితిని కనుగొనటానికి ఉపయోగపడుతుంది.[2]
చరిత్ర
[మార్చు]డీ బ్రోగ్లీ హైపోథిసీస్ ను,1924 లో రూపొందించారు .ఈ హైపాథిసిస్ ఆధారంగా అణువులు తరంగాలుగా ప్రవరర్తిస్తాయి. ఈ సూత్రం రెండు వేరు వేరు ప్రయోగాలు ఎలక్ట్రాన్ వివర్తనం యొక్క పరిశీలన (ఒక మిగిలిన ద్రవ్యరాశి కలిగిన) ఎలెక్ట్రాన్ల కొరకు మూడు సంవత్సరాల తరువాత ధ్రువీకరించబడింది. థాంసన్, డేవిసన్ ఒక సన్నని లోహ ఫిల్మ్ ద్వారా ఎలక్ట్రాన్ల కాంతిపుంజం ఆమోదించారూ, అంచనాలు అబెర్డీన్ జార్జ్ పేజెట్ థామ్సన్ విశ్వవిద్యాలయం వద్ద ఆ ప్రయొగాల యొక్క నమూనాలను గమనించారు.ఈ ప్రయొగాలకు గాను వారికి 1937లో నోబెల్ బహుమతి లభించింది.
థియరీ
[మార్చు]పదార్థం తో ఎలక్ట్రాన్ పరస్పర చర్య; ఎక్స్-రేలు, న్యూట్రాన్లు వంటి పదార్థాల వివర్తనం అధ్యయనాల్లో ఉపయోగించే ఇతర వికిరణ రకాలు వలె కాకుండా, ఎలెక్ట్రాన్ల రేణువులు ఆవేశం, కులుంబ్ దళాల ద్వారా పదార్థంతో సంకర్షణ జరుపుతాయీ. Diffracted కిరణాల యొక్క తీవ్రత ఎలక్ట్రాన్ వివర్తనం కోసం kinematic అంచనాను, ఒక Diffracted కిరణం యొక్క తీవ్రత ద్వారా ఇవ్వబడుతుంది.
ఇవి కూడా చూడండి
[మార్చు]బయటి లంకెలు
[మార్చు]- EMS - a software package for electron diffraction analysis and HREM image simulation in materials science
- analysis of Si(111)‐7×7 by UHV‐transmission electron diffraction and microscopy [permanent dead link]
- analysis of Si(111)-7 × 7 reconstructed surface by transmission electron diffraction[permanent dead link]
- Catalogue[permanent dead link]
మూలాలు
[మార్చు]- ↑ Leonid A. Bendersky and Frank W. Gayle, "Electron Diffraction Using Transmission Electron Microscopy", Journal of Research of the National Institute of Standards and Technology, 106 (2001) pp. 997–1012.
- ↑ Feynman, Richard P. (1963). The Feynman Lectures on Physics, Vol. I. Addison-Wesley. pp. 16–10, 17–5.