原子力顯微鏡
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原子力顯微鏡(AFM)或掃描力顯微鏡(SFM)係一種高解像度嘅掃描探針顯微鏡(SPM),佢嘅解像度比光學繞射極限高1000倍,可以去到納米級別嘅分辨率。
原理
[編輯]AFM 包括一個懸臂梁同一支銳利嘅尖端(探針),用嚟睇哂成個樣本表嘅表面。懸臂梁通常係矽或矽氮化物,而尖端嘅半徑大概係納米級別。當探針靠近樣本表面,探針同樣本之間嘅力會據胡克定律令到懸臂梁彎曲[1]。根據情況,AFM 測量嘅力包括機械接觸力、范德華力、毛細管作用力、化學鍵、靜電力、磁力(睇埋磁力顯微鏡,MFM)、卡西米爾力、溶劑化力等等。除了力之外,透過用特殊類型嘅探針(睇埋掃描熱顯微鏡、掃描焦耳膨脹顯微鏡、光熱微光譜學等),仲可以同時測埋其他嘅物理量。
參考
[編輯]- ↑ "Wayback Machine" (PDF). web.archive.org. 2012-12-03. 原著 (PDF)喺2012-12-03歸檔. 喺2023-03-02搵到.